菲希爾電解法測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP介紹

菲希爾測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差

使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾庫倫法測(cè)厚儀

CMS2 STEP 的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。