菲希爾涂層測(cè)厚儀Dualscope FMP150信息

菲希爾測(cè)厚儀Dualscope FMP150特性：

可更換的探頭可為各種測(cè)量任務(wù)提供靈活選擇

在高分辨率圖形觸摸屏上詳細(xì)展示測(cè)試方案與檢查計(jì)劃

使用 Windows™ CE 操作系統(tǒng)進(jìn)行直觀的操作

通過(guò)磁感應(yīng)法和電渦流法進(jìn)行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測(cè)量

測(cè)量符合標(biāo)準(zhǔn)，具有適用于 IMO PSPC、

SSPCPA2、QUALANOD 或 QUALICOAT 的特殊模式

Fischer FMP150菲希爾測(cè)厚儀應(yīng)用：

DUALSCOPE用于鋼、鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層，無(wú)需更換儀器

Dualscope H FMP150：非鐵磁性金屬或絕緣體上的鎳涂鍍層

非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級(jí)涂鍍層

非鐵磁性制成的厚涂鍍層或鋼上的保護(hù)涂鍍層