FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，專為超薄鍍層測(cè)量與痕量分析而生，憑借高性能成為行業(yè)優(yōu)選設(shè)備。

核心優(yōu)勢(shì)

自動(dòng)化測(cè)量：配備高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)與馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)樣品測(cè)量。當(dāng)具有防護(hù)功能的測(cè)量門向上開(kāi)啟時(shí)，樣品臺(tái)自動(dòng)移出至樣品放置位，極大提升操作效率。

精準(zhǔn)定位：通過(guò)激光點(diǎn)快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置，內(nèi)置帶圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，不僅簡(jiǎn)化樣品放置流程，還能對(duì)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行精確微調(diào)，確保測(cè)量精準(zhǔn)無(wú)誤。

操作與控制

所有儀器操作，包括測(cè)量數(shù)據(jù)計(jì)算、測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表展示，均可通過(guò)功能*且界面友好的 WinFTM® 軟件在電腦端輕松完成，操作便捷高效。

性能參數(shù)

元素測(cè)定：最多可同時(shí)測(cè)定從鋁（13）到鈾（92）的 24 種元素，滿足多樣化分析需求。

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：采用測(cè)量門向上開(kāi)啟的臺(tái)式設(shè)計(jì)，側(cè)面開(kāi)槽，方便樣品操作。

智能組件：配備馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，以及馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。

核心部件：儀器搭載帶鈹窗口的微聚焦鎢管，具備三擋可調(diào)節(jié)高壓，同時(shí)配備 6 個(gè)可切換的基本濾片，為精準(zhǔn)測(cè)量提供有力保障。