菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列作為一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀，源自大眾認(rèn)可的 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器，在其基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的優(yōu)化與升級。

與上一代儀器一樣，菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列具備*的功能，非常適合進(jìn)行無損測量鍍層厚度、材料分析以及溶液分析。同時(shí)，針對大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層，它能夠?qū)崿F(xiàn)全自動(dòng)檢測，大大提高了生產(chǎn)檢測的效率和準(zhǔn)確性。

該系列儀器采用了基本參數(shù)法這一先進(jìn)技術(shù)，這一特性使其在測量和分析方面具有優(yōu)勢。無論是面對鍍層系統(tǒng)，還是固體和液體樣品，儀器都無需依賴標(biāo)準(zhǔn)片，即可直接進(jìn)行測量和分析，為用戶省去了繁瑣的標(biāo)準(zhǔn)片準(zhǔn)備工作，提升了工作的便捷性。

在測量范圍上，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列能夠覆蓋從元素氯（17）到鈾（92），廣泛的測量范圍使其適用于多種不同的檢測場景。對于需要進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控的客戶來說，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列無疑是一款可靠且實(shí)用的儀器選擇。