菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500產(chǎn)品形態(tài)與設(shè)計：具有多樣化的形態(tài)，既可以作為手持式設(shè)備使用，也能作為封閉式的臺式機，還能直接整合到生產(chǎn)線中。作為手持式設(shè)備時，其重量為 1.9 千克，采用三點支撐設(shè)計，確保測量位置準確和結(jié)果重復性，搭配帶有 WinFTM 軟件的平板電腦，操作便捷。

核心技術(shù)：采用能量色散型 X 射線熒光技術(shù)（ED-XaRF），配備高性能硅漂移探測器（SDD）和優(yōu)化的 X 射線管，可實現(xiàn)對從輕元素（如鋁、鎂）到重元素（如金、鉛）的高靈敏度檢測，支持多達五層鍍層的同時測量，滿足復雜結(jié)構(gòu)鍍層的測量需求。

測量精度：高分辨率硅漂移探測器（SDD）的分辨率≤140eV，確保了超薄鍍層的測量精度，其測量重復性和穩(wěn)定性佳，尤其適用于微米甚至納米級鍍層的精密測量。

操作與軟件：搭載菲希爾專有的 WinFTM® 測量軟件，操作界面直觀簡潔，支持一鍵式測量、自動校準、數(shù)據(jù)統(tǒng)計及報告生成，同時具備*的數(shù)據(jù)庫管理功能，便于企業(yè)進行質(zhì)量追溯與過程控制。