菲希爾X射線測厚儀FISCHER XULM240測量原理：采用 X 射線熒光法（XRF），通過 X 射線激發(fā)樣品表面鍍層，分析熒光信號強(qiáng)度反推鍍層厚度與元素成分，實(shí)現(xiàn)非破壞性檢測。

關(guān)鍵組件：配備帶玻璃窗口或鈹窗口的鎢靶微聚焦 X 射線管（50kV/50W），比例計(jì)數(shù)器探測器，4 個自動切換準(zhǔn)直器（0.05×0.05mm 至 ?0.3mm）和 3 個自動切換基本濾片，還內(nèi)置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡（38x-184x 變焦）。

應(yīng)用領(lǐng)域：適用于線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等鍍層測量，電子行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的鍍層測量，裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 測量，電鍍鍍層如螺栓和螺母上的防腐蝕保護(hù)層 Zn/Fe、ZnNi/Fe 測量，以及珠寶和鐘表工業(yè)、電鍍液中金屬成分含量測定等領(lǐng)域。