Fischerscope XDLM232 x射線測厚儀

Fischerscope XDLM232 x射線測厚儀

菲希爾x熒光分析儀FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：
菲希爾x熒光分析儀FISCHERSCOPE-X-RAYXDLM儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。Fischerscope XDLM232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 232型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 237型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。