FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

菲希爾XDV-SDD特點(diǎn)

菲希爾XDV-SDD通用X射線熒光分析儀，用于根據(jù)ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層（0.05μm）百萬(wàn)分之一以下的精細(xì)材料分析

菲希爾x射線測(cè)厚儀使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測(cè)器（SDD 50 mm2）

6種可切換基本濾片和4種可切換準(zhǔn)直器優(yōu)化測(cè)量條件

分析輕元素，例如鋁，硅和磷

樣品高度高達(dá)14厘米

高精度，可編程XY工作臺(tái)，定位精度為5 µm，用于小型結(jié)構(gòu)的自動(dòng)測(cè)量；

結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)試，具有長(zhǎng)期穩(wěn)定性

經(jīng)過(guò)認(rèn)證的全面防護(hù)裝置

菲希爾x射線測(cè)厚儀應(yīng)用

菲希爾x射線測(cè)厚儀測(cè)試電子和半導(dǎo)體工業(yè)中的極薄涂層，例如厚度小于50nm的金和鈀層；

在汽車制造業(yè)中測(cè)量硬質(zhì)材料涂層

在光伏行業(yè)中測(cè)量鍍層厚度

根據(jù)RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令（電子，包裝和消費(fèi)品）對(duì)有害物質(zhì)如鉛和鎘進(jìn)行痕量分析

黃金，其他貴金屬和合金的分析和真實(shí)性測(cè)試

直接測(cè)定功能性NiP涂層中磷的含量

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司是國(guó)內(nèi)更專業(yè)的菲希爾測(cè)厚儀、泰勒霍布森粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等產(chǎn)品的代理商。經(jīng)過(guò)市場(chǎng)的洗禮和多年的努力積累，駿展儀器已發(fā)展成為儀器行業(yè)的棒企業(yè)。我們的產(chǎn)品，不斷精益求精，為客戶提供符合客戶要求的物理表面檢測(cè)設(shè)備，客戶遍及石油、電力、鋼鐵、軌道交通、電子、半導(dǎo)體、航空、航天、軍工、實(shí)驗(yàn)室、汽車……在科技行業(yè)，我們以客戶的需求為出發(fā)點(diǎn)。經(jīng)過(guò)多年的努力，公司的員工克服了各種障礙，一路走來(lái)，不懈努力。員工、技術(shù)和服務(wù)都越來(lái)越*。

菲希爾Fischerscope MMS PC2

Fischerscope MMS PC2特性：

堅(jiān)固耐用且功能豐富的臺(tái)式儀器，可用作多功能測(cè)量系統(tǒng)，并可保存和處理測(cè)量數(shù)據(jù)

由于采用模塊化結(jié)構(gòu)以及可交換式探頭，可實(shí)現(xiàn)靈活應(yīng)用

將多種物理測(cè)量技術(shù)融入單個(gè)儀器中，因此適用性：振幅與相位敏感電渦流、磁感應(yīng)、β 射線

*的分析與統(tǒng)計(jì)功能

通過(guò)大型內(nèi)置觸摸屏或使用鍵盤和鼠標(biāo)進(jìn)行直觀操作

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司為客戶提供方守合同、快速售前(演示設(shè)備、引進(jìn)更新技術(shù))銷售(選購(gòu)、滿足客戶對(duì)客戶的要求)、售后服務(wù)、設(shè)備維修、維修問(wèn)題等)當(dāng)客戶需要時(shí)，我們專業(yè)的工作人員可以到客戶現(xiàn)場(chǎng)，提供急需的服務(wù)。