菲希爾X射線測厚儀XDL

菲希爾X射線測厚儀XDL

菲希爾x射線測厚儀在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個(gè)組成部分。我們的儀器以其精確性、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名。同時(shí)，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計(jì)易于使用，并在測量的各個(gè)方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測量儀器上。

菲希爾x射線測厚儀我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測量過程。這包括控制X射線、實(shí)現(xiàn)測量的可追溯性、生成個(gè)性化測量報(bào)告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

菲希爾x射線測厚儀我們種類齊全的X射線設(shè)計(jì)用于高可靠性地測量不同的應(yīng)用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進(jìn)行質(zhì)量控制。

菲希爾x射線測厚儀特點(diǎn)介紹

能量色散X射線熒光光譜儀，自動(dòng)進(jìn)行材料自動(dòng)分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)；

XDLM的最小測量點(diǎn)： 0.1毫米; XDL的最小測量點(diǎn)：約 0.2毫米

鎢X射線管或鎢微焦點(diǎn)管（XDLM）作為X射線源

經(jīng)驗(yàn)證可用于快速測量的比例接收器探測器

固定或可更改的準(zhǔn)直器

固定或可自動(dòng)切換基本濾片

可選擇手動(dòng)或可編程的XY載物臺；

開槽箱體設(shè)計(jì)用于測量大的印刷電路板

通過攝像頭可輕松固定測量位置

經(jīng)過認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備；

高精度涂層測厚儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無損測量儀,組件清潔度測試系統(tǒng)、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測量儀、光譜儀、高度計(jì)、通用長度測量機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計(jì)、滲碳層厚度計(jì)、滲氮層深度無損檢測儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計(jì)、投影儀、視頻測量儀、材料萬能試驗(yàn)機(jī)、莫尼粘度計(jì)、振動(dòng)計(jì)等精密測量儀器。