Fischer菲希爾*Dualscope FMP40

Fischer菲希爾*Dualscope FMP40

Dualscope FMP40測(cè)厚儀

Fischer DualScope FMP40菲希爾測(cè)厚儀代理可以自動(dòng)識(shí)別基底材料，菲希爾測(cè)厚儀代理并集成了兩種測(cè)量方法，因此該系列儀器可以測(cè)量鋼鐵材料或非鐵磁性基底上大多數(shù)涂層的厚度。Fischier DualScope FMP40測(cè)厚儀結(jié)合了兩種測(cè)量方法，該系列儀器還可以在一次測(cè)量過(guò)程中測(cè)量?jī)蓚€(gè)涂層(漆層/鋅層)的厚度，并分別顯示。

DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)和渦流兩種方法。

fischer測(cè)厚儀磁感應(yīng)方法:

fischer測(cè)厚儀探頭激發(fā)產(chǎn)生低頻磁場(chǎng)區(qū)域，磁場(chǎng)強(qiáng)度取決于涂層厚度，并被磁性基底放大。測(cè)量線圈捕獲這個(gè)放大的信號(hào)，然后通過(guò)儀器中存儲(chǔ)的探頭特性曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換成涂層厚度。

應(yīng)用:鋅、鉻、銅等電鍍層或非磁性涂層或油漆，塑料及其他涂在或噴涂在鋼鐵上的涂層。

fischer測(cè)厚儀渦流法:

fischer測(cè)厚儀通過(guò)探頭的激勵(lì)，產(chǎn)生高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，在基板中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。二次磁場(chǎng)區(qū)削弱了一次磁場(chǎng)區(qū)，削弱的影響相當(dāng)于探針與基底的距離，即涂層的厚度。然后，弱化影響被轉(zhuǎn)換成涂層的厚度值，并通過(guò)存儲(chǔ)在儀器中的探頭特性曲線顯示出來(lái)。

菲希爾dualscope FMP40涂層測(cè)厚儀

德國(guó)Fischer DUALSCOPE FMP40菲希爾*測(cè)厚儀配備有一個(gè)*的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4' x 1.2'）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，應(yīng)用程式號(hào)，組號(hào)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。其它特性還包括RS232雙向通訊的打印機(jī)和PC電腦的連接，聲音提示信號(hào)，電池或交流供電，以及節(jié)電的測(cè)量后4分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)。

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國(guó),英國(guó),德國(guó)和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無(wú)損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測(cè)量工具測(cè)量工具和其他類型的測(cè)試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測(cè)量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。