Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀測(cè)量原理

Fischer測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2這個(gè)系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過(guò)在控制電流條件下電解腐蝕——實(shí)際上就是電鍍的反過(guò)程。所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。

COULOSCOPE CMS2測(cè)量槽——可比作微型電解缸——被用來(lái)剝離鍍層。 測(cè)量面積由裝在測(cè)量槽上的墊圈尺寸來(lái)決定。對(duì)不同的金屬采用不同配方的電解液。通過(guò)載入電流開(kāi)始電解過(guò)程。 電解過(guò)程由COULSCOPE儀器的電子部分控制， 用一個(gè)泵攪拌電解液來(lái)使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電解液最佳利用。 根據(jù)測(cè)量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。

Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀

菲希爾電解法測(cè)厚儀，庫(kù)侖法的成本效益高，可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。

COULOSCOPE CMS2 STEP測(cè)試:庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測(cè)量

如果你想在使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度的同時(shí)測(cè)量電化學(xué)電勢(shì)，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測(cè)試方法可以同時(shí)測(cè)量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測(cè)定這些鍍層的腐蝕行為。